Oberflächenkräfte und Rastersondenmikroskopie

Ein Rastersondenmikroskop ist ein Instrument, das die Wechselwirkung zwischen einer Oberfläche und einer nanoskaligen Spitze (alternativ auch einem Kolloid oder einem Tropfen) mit einer Empfindlichkeit im Bereich einiger 10 pN detektiert. Typischerweise handelt es sich dabei um die elektrostatischen oder van der Waals-Kräfte zwischen der Spitze und der Oberfläche. Durch zeilenweises Abtasten kann die Topographie einer Probe mit Auflösungen im molekularen Maßstab bestimmt werden. Je nach Art der detektierten Wechselwirkung ist auch eine Aussage über lokale elektrische, magnetische oder spektroskopische Eigenschaften auf der Nanoskala möglich. Wir nutzen diese besondere Flexibiltät der Rastersondenmikroskopie für die Charakterisierung einer Reihe von Oberflächeneigenschaften:

  • Colloidal Probe Kraftspektroskopie -> Michael Kappl, Rüdiger Berger
  • Tropfenadhäsion -> Rüdiger Berger, Doris Vollmer, Michael Kappl, Hans-Jürgen Butt
  • Bioadhäsion -> Michael Kappl, Hans-Jürgen Butt
  • Mechanische Eigenschaften auf der Mikro- und Nanoskala -> Michael Kappl
  • Characterization von Materialien für Energieerzeugung und -speicherung (Perovskik Solarzellen, Batterien, etc.) -> Rüdiger Berger, Stefan Weber
  • Hochaufgelöste Rastersondenmikroskopie an Flüssig-Fest-Grenzflächen -> Stefan Weber
  • Oberflächenkräfte bei hohem hydrostatischem Druck -> Hans-Jürgen Butt, Rüdiger Berger
  • Infrarotspektroskopie auf der Nanoskala (NanoIR) -> Rüdiger Berger

 

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