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Macholdt, D. S.; Förster, J.-D.; Müller, M.; Weber, B.; Kappl, M.; Kilcoyne, A. L. D.; Weigand, M.; Leitner, J.; Jochum, K. P.; Pöhlker, C. et al.; Andreae, M. O.: Artifacts from manganese reduction in rock samples prepared by focused ion beam (FIB) slicing for X-ray microspectroscopy. Geoscientific instrumentation, methods and data systems 8 (1), S. 97 - 111 (2019)
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